1NM掃描電遷移粒徑譜儀特點與優勢
快速獲得粒徑和數量濃度的高分辨率數據
·優化使擴散損失最小
·1至50nm間>109個通道
·配合3081A長DMA差分靜電遷移分析儀使用，可測量從1nm到1µm 3個粒徑數量級的粒子
模塊化組件設計，可以根據用戶測量需求定制，例如單獨使用1nm CPC等
內置診斷和自動檢測系統組件，可以獲得可靠和可重復的測量數據
易于安裝和使用的氣溶膠儀器管理器（AIM）軟件
多功能的粒子測量方式：適用于多模樣品
1NM掃描電遷移粒徑譜儀應用范圍
基礎氣溶膠研究
通過粒子源（如火焰合成、激光燒蝕、火花產生和成核/凝結）研究粒子成核和粒子生長。
燃燒和發動機排氣研究（有機燃料、低于3nm的排放、天然氣發動機、塑料成型和焊接
過濾研究
吸入或暴露室研究
*SMPS光譜儀包含3082型分級器、1nm DMA差分靜電遷移分析儀、3757型納米增強儀和3750型凝聚核粒子計數器等組件。
